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偏振相关损耗测试仪PDL-201
产品简介：采用专利最大最小搜索技术，PDL测试仪能在30ms内，同时测量待测器件的偏振相关损耗（PDL），插入损耗（IL）和光功率。使用扰偏法测量的PDL具有很高的不确定性。与这种方法不同，PolaCHEXTM有条理地搜索最大和最小透过率，确保了具有较高和较低PDL值的器件在任何时刻的测量精度，可获得最精确的PDL值。PolaCHEX覆盖了较宽的波长范围：1260~1650nm，无需波长校准，比基
- 产品名称： 偏振相关损耗测试仪PDL-201
- 合作厂商： 波威
详细信息
产品简介：
采用专利最大最小搜索技术，PDL测试仪能在30 ms内，同时测量待测器件的偏振相关损耗（PDL），插入损耗（IL）和光功率。使用扰偏法测量的PDL具有很高的不确定性。与这种方法不同，PolaCHEXTM有条理地搜索最大和最小透过率，确保了具有较高和较低PDL值的器件在任何时刻的测量精度，可获得最精确的PDL值。PolaCHEX覆盖了较宽的波长范围：1260~1650 nm，无需波长校准，比基于Mueller矩阵方法测得的PDL值更准确。它带有USB、以太网、GPIB和RS-232接口，用于电脑控制。能快速、精确测量与波长相关的无源器件的特性，尤其适用于制造或实验室中DWDM、光纤传感元件。与PDL-101相比，PDL-201具有较快的测量速度，较大的测量动态范围，更明亮的显示屏，以及用于集成的附加模拟输出端口。
主要技术参数：
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波长： |
1260-1620 nm |
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分辨率 |
0.01 dB |
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PDL 精确度1,2,3 |
±(0.01 + 5% of PDL) (dB) |
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PDL 重复性1 |
±(0.005 + 2% of PDL) (dB) |
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PDL 动态范围4 |
0 to 45 dB |
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IL 精确度1,2,3 |
±(0.01 + 5% of IL) (dB) |
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IL 重复性1 |
±(0.005 dB + 2% of IL) (dB) |
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IL 动态范围4 |
0 to 45 dB |
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输入光功率 |
-40 to 6 dBm |
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光功率精度 |
±0.25 dB |
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波长校准( 功率测量) |
1260-1360 nm ； 1440-1620 nm |
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测量速度 |
30 ms/次 (input >-30 dBm) |
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操作温度 |
0 to 50℃ |
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存储温度 |
-20 to 70℃ |
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光连接器类型 |
光源、 DUT 输入：APC |
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DUT输出 |
自由空间适配器 |
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模拟输出 |
0-4V PDL监控电压 (用户自定义PDL范围) (0-3.5V PDL线性变化, 4V 指示低功率) |
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电源供应 |
100–240VAC, 50–60Hz |
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通讯接口 |
USB, Ethernet, RS-232, and GPIB |
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尺寸 |
2U, 19” 半架宽度 3.5" (H) × 8.5" (W) × 14" (L) |
备注:数据在23±5°C温度下，10组平均值所得。精确的偏振相关损耗测试还取决于测试设置。输入功率 ≥0 dBm，用户自定义功率计测量模式。